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納米粒度儀及電位分析儀

APS-100高濃度納米粒度儀 Zeta-APS電位分析儀 ZetaZF400-電位分析儀 ZetaZA500-電位分析儀原液在線檢測分析儀 CHDF3000高分辨納米粒度儀 CHDF4000高分辨納米粒度儀納米粒度儀分析儀

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ZetaAPS美國MAS粒度Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2024-11-26

型號：ZetaAPS

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美國MAS粒度Zeta電位分析儀可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。$n對于高達(dá)60%（體積）濃度的樣品，也無需進(jìn)行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進(jìn)行測量。
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Zeta-FinderZF400型超聲電聲法及Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2024-11-26

型號：Zeta-FinderZF400型

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超聲電聲法及Zeta電位分析儀采用專門的電動聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限，該儀器可同時(shí)測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；
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CHDF3000型美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2021-08-19

型號：CHDF3000型

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美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀$n精確非均勻樣品分析—包括納米顆?！?dú)w功于其與顆粒密度無關(guān)的分析。自動/無人操作。所有組件都在一個(gè)簡易單一窗口界面控制和操作。
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CHDF4000型美國MAS毛細(xì)管高分辨納米粒度儀

更新時(shí)間：2024-11-26

型號：CHDF4000型

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美國MAS毛細(xì)管高分辨納米粒度儀CHDF4000是基于光散原理的儀器，使用新的技術(shù)對高分辨率的粒度分布（PSD）進(jìn)行測量，包括高粒子檢測靈敏度、動態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析；$nCHDF4000可提供完整范圍5納米至NM3微米，真實(shí)的PSD數(shù)據(jù)；$n通過粒子分離真正的PSD數(shù)據(jù)，關(guān)于粒子大小分布的形狀不需要假設(shè)；$n自動化操作，通過一個(gè)人性化界面即可完成全部操作
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ZetaZF400型美國MAS膠體zeta電位測定儀

更新時(shí)間：2024-11-26

型號：ZetaZF400型

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美國MAS膠體zeta電位測定儀采用專門的電動聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限。提供數(shù)據(jù)快速準(zhǔn)確而不需要稀釋樣品，從而避免了稀釋器材的使用和錯(cuò)誤（樣品稀釋，Zeta電位將*改變）;該儀器可同時(shí)測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；
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ZetaZF400型美國MAS電聲法粒度Zeta電位分析儀原液測試

更新時(shí)間：2021-06-24

型號：ZetaZF400型

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美國MAS電聲法粒度Zeta電位分析儀原液測試該儀器可同時(shí)測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；堅(jiān)固的、多功能的、鍍金的Zeta浸入探頭可以用于樣品室或獨(dú)立的容器中；自動滴定法用于簡單的IEP測量；樣品可被強(qiáng)烈攪拌或混合，因此不會產(chǎn)生沉淀物；
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ZetaZF400型超聲電聲法Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2024-11-26

型號：ZetaZF400型

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超聲電聲法Zeta電位分析儀$n該儀器可同時(shí)測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；堅(jiān)固的、多功能的、鍍金的Zeta浸入探頭可以用于樣品室或獨(dú)立的容器中；自動滴定法用于簡單的IEP測量；樣品可被強(qiáng)烈攪拌或混合，因此不會產(chǎn)生沉淀物；
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粒度電聲法Zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2021-08-19

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粒度電聲法Zeta電位分析儀，Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量；樣品的高濃度可達(dá)60%（體積比），被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量；具有自動電位滴定功能；
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